玷污层对根尖微渗漏的影响

摘要：

目的:利用扫描电镜和葡萄糖定量法评价玷污层对离体牙根管充填后根尖微渗漏的影响.方法:选取51颗单直根管离体牙,随机分为5组进行根管预备,并按分组进行根管冲洗.A组(11颗)--17%乙二胺四乙酸和1%次氯酸钠,B组(11颗)--1%盐酸四环素和1%次氯酸钠,C组(11颗)--10%枸橼酸和1%次氯酸钠,D组(9颗)--1%次氯酸钠.E组(9颗)--生理盐水.每组各选取1个样本进行扫描电镜观察,其余样本进行根管侧压充填.于第1、2、4、7、10、15、20、30天用葡萄糖氧化酶法测定从冠方向根方渗漏的葡萄糖量.实验数据采用SPSS16.0软件包进行重复测量数据的方差分析和SNK-q检验.结果:A、B、C组根管无玷污层结构,微渗漏量较D、E组小(P<0.05);D、E组根管玷污层多,微渗漏量大,E组微渗漏量大于D组(P<0.05).结论:去除玷污层可有效减少微渗漏的发生.

关键词：玷污层、微渗漏、扫描电镜、葡萄糖氧化酶法

所属期刊栏目：17

分类号：R781.33(口腔科学)

资助基金：湖南省科技厅资助项目05TH4007

在线出版日期：2009-03-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：616-620