10.3969/j.issn.1006-7248.2006.04.008
安氏Ⅱ1类错(牙合)不同骨面型的牙颌垂直向形态特征分析
目的:探讨安氏Ⅱ1类错(牙合)不同骨面型牙颌垂直向形态特征.方法:选取恒牙初期的正常(牙合),Ⅱ1类错(牙合)均角型、高角型、低角型的X线头颅侧位片各30张,男女各半,进行X线头影测量分析,通过多组间单因素方差分析及两两比较,明确Ⅱ1类错(牙合)3种骨面型和正常(牙合)的牙颌垂直向形态变化.结果:(1)所有Ⅱ1类错(牙合)总体上颌复合体的前部相对于后部垂直向发肓过度.均角组上颌复合体整体相对发育过度,颅底一下颌支复合体发育不足;高角组上颌复合体前部发育过度,后部和颅底-下颌支复合体发育不足;均角组和高角组下颌有后下旋转的趋势.低角组颅底一下颌支复合体的垂直生长相对于上颌复合体的后部发育过度,上颌复合体前部发育正常.下颌有前上旋转的趋势.(2)Ⅱ1类错(牙合)L6的垂直高度降低,U6远中倾斜.高角组、均角组U6垂直高度未增加,功能(牙合)平面(FOP)前下倾斜,高角组U6及功能(牙合)平面倾斜的程度最大;低角组U6垂直高度降低,远中倾斜程度最小,功能(牙合)平面未见异常.结论:Ⅱ1类错(牙合)不同骨面型牙颌形态表现出不同的垂直向特征,治疗时垂直向控制应采取不同的措施.
Ⅱ1类错(牙合)、头影测量、高角型、低角型、垂直向
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R78(口腔科学)
2006-10-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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