10.3969/j.issn.1001-7208.2011.02.007
Al-Mg-Si合金和Al-Mg-Si-0.6%Cu合金的内耗研究
采用低频力学谱仪对Al-Mg-Si合金和Al-Mg-Si-0.6% Cu合金的内耗进行了研究.结果表明:两种合金的内耗在加热过程先升高后降低.利用TEM对AI-Mg-Si合金和Al-Mg-Si-0.6%Cu合金的微观结构进行观察,显示合金内耗的变化是合金中的析出相和位错相互作用的结果.
内耗、透射电子显微镜、Al-Mg-Si合金、Al-Mg-Si-0.6、Cu合金
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TG1;TM2
国家自然科学基金资助项目50801044
2011-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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28-31,44