逻辑内建自测试双重过滤测试点选取策略

摘要：

为有效改善逻辑内建自测试(logic built-in self-test,LBIST)因使用伪随机向量发生器生成测试图形,而导致相关应用芯片故障覆盖率指标较低的问题,便于控制、较易调整的测试点插入(test point insertion,TPI)技术被广泛应用.然而,在TPI的测试点选取过程中通常基于“故障覆盖率优先”准则,进而使部分测试点面积开销过高.针对此问题,通过对现有主流选取策略的分析,提出一种应用于LBIST的双重过滤测试点选取策略.该策略首先通过预过滤,获得高故障覆盖率/低面积开销的单一测试点集,以保障TPI整体质量;其次,通过全局测试点滤取,滤除故障覆盖高度重合的单一测试点,完成符合边界条件的TPI.实验表明,该策略与目前较新颖的紧凑型单元感知测试点选取策略相比,故障覆盖率提升4.15％,减少测试面积开销5.72％,充分证明该策略在提高故障覆盖率和减小测试面积上的优势.

关键词：逻辑内建自测试、测试点选取、双重过滤

所属期刊栏目：26

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：十三五国家重点研发计划资助项目;上海市教委重点学科资助项目

在线出版日期：2020-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：518-526