10.3969/j.issn.1007-2861.2013.01.013
溶液法制备CdZnTe晶体中Te夹杂相分析
利用红外(infrared,IR)显微镜、腐蚀坑形貌及傅里叶红外(Fourier transform infrared,FTIR)光谱仪观察研究溶液法制备CdZnTe晶体中的Te夹杂相.讨论CdZnTe晶锭中Te夹杂相的分布和原因,及其对晶体中位错密度(etch pitdensity,EPD)和红外透过率的影响.实验结果表明:沿生长轴方向,Te夹杂相密度增大,相应的位错密度也增大;红外透过率随Te夹杂相密度的增大而减小,生长末端晶体的透过率低至45%.
碲锌镉、Te夹杂、位错、红外透过率
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TN304(半导体技术)
国家自然科学基金资助项目50902091;上海市重点学科建设资助项目S30107;上海市科委重点资助项目11530500200;上海市教委科研创新资助项目12ZZ096
2013-04-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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