10.3969/j.issn.1007-2861.2007.01.003
高隔离度的双极化口径耦合微带单元与阵列天线
提出一种新型的双极化微带贴片单元与其阵列设计,该单元采用一对相互垂直的"H"形缝隙作口径耦合馈电,获得了良好的端口隔离度(在工作频带8.8~9.8 GHz内实测值大于42 dB).该结构用于SAR系统天线的子阵设计时,其网络布置较为简单.基于此设计,研制了八单元直线阵列天线,理论仿真和实验相当吻合,不但测得高的端口隔离度(>30 dB),而且实测的交叉极化特性很好(<-32.5 dB).
微带天线、阵列、双极化、口径耦合、隔离度
13
TN821.1(无线电设备、电信设备)
高等学校博士学科点专项科研项目20050280016
2007-04-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
10-13