专用VAD集成电路可测性设计研究

摘要：

在专用集成电路设计中,基于功能单元的片上系统(FCBSOC,function-core-basedsystem-on-a-chip)设计技术正得到广泛使用.这种片上系统的可测性设计方法很多,如Fscan-Bscan法、Fscan-Tbus法和层次化测试生成法等.通过对这些可测性设计方法的研究,该文提出一种测试开销低、测试故障覆盖率高的层次化分析法来实现专用VAD(Videoadddata)集成电路的可测性设计.

关键词：层次化分析法、专用集成电路、可测性设计、敏化、故障覆盖率

所属期刊栏目：7

分类号：TN402;TN492(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家重点实验室基金F-361

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：7-12