利用数据管控法提高汽车半导体器件的可靠性

摘要：

本文旨在探讨如何利用数据管控法来提高半导体器件的可靠性,尤其是汽车电子系统的可靠性.本文介绍了《基于集成电路应力测试认证的失效机理(H版)》(AEC-Q100),并探讨了如何基于该标准建立模型和算法,实现对半导体器件的在线监测和故障预警,及时发现潜在隐患,剔除可靠性较低的部分器件,以有效地提高半导体器件的可靠性;最后,用案例进行验证.

关键词：数据管控、半导体器件、汽车电子、可靠性、标准

分类号：U463.6;TP311.52;TN401

在线出版日期：2024-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：53-57