10.3969/j.issn.1002-266X.2006.25.095
高热惊厥患儿的出院健康教育
@@ 高热惊厥是儿科常见急症,如治疗不及时,惊厥持续时间过长或多次复发,可损伤脑细胞,影响智力发育.
高热惊厥、患儿、惊厥持续时间、智力发育、多次复发、脑细胞、治疗、损伤、急症、儿科
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R72;R9(儿科学)
2006-10-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
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10.3969/j.issn.1002-266X.2006.25.095
高热惊厥、患儿、惊厥持续时间、智力发育、多次复发、脑细胞、治疗、损伤、急症、儿科
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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