Er/Yb/Al掺杂ZnO薄膜的结构与形貌研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1673-7644.2011.05.004

Er/Yb/Al掺杂ZnO薄膜的结构与形貌研究

引用
采用射频磁控溅射技术在室温下Si衬底上制备了ZnO薄膜和Er/Yb/Al掺杂的ZnO薄膜.通过对XRD的结构分析表明:未掺杂ZnO薄膜沿c取向性生长,掺杂ZnO薄膜偏离了正常生长,变为(102)取向性生长的纳米多晶结构;Er/Yb/Al掺杂的ZnO薄膜的晶粒尺寸随着Er元素含量的增多而减小.经AFM对其形貌分析表明:Er3+、yb3+、Al3+的掺入引起了ZnO薄膜晶格场变化,使薄膜表面粗糙度变大.

射频磁控溅射、ZnO薄膜、掺杂、结构、形貌

26

O484.1(固体物理学)

住房和城乡建设部研究开发项目2010-K4-15;山东建筑大学博士基金010180921

2012-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

425-428,446

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

山东建筑大学学报

1673-7644

37-1449/TU

26

2011,26(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn