缺陷型与非缺陷型精神分裂症的脑电图分析

摘要：

目的研究缺陷型、非缺陷型精神分裂症患者在脑电图(EEG)方面的差异.方法采用国产ND-82B型八道EEG机对69例精神分裂症患者进行标准EEG描记,并对结果进行分析.结果缺陷型精神分裂症的EEG异常率明显高于非缺陷型精神分裂症,二者有显著性差异(P＜0.01).结论提示缺陷型与非缺陷型患者相比,有更明显的病理性生物学基础.

关键词：精神分裂、症缺陷、型非缺陷型、脑电图

所属期刊栏目：15

分类号：R749.3;R741.044(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：214-215