原子力显微镜在纳米测量技术中的应用
纳米测量技术作为21世纪计量测试领域研究的重点，一直深受国内外专家的关注。原子力显微镜（AFM）在其研究过程中一直发挥着非常重要作用。论文根据纳米测量所涉及的两个重要领域：纳米长度测量和纳米级的表面轮廓测量，以及在实验教学过程中的教学实践，列举了AFM在纳米测量技术教学中的运用案例。实践证明，AFM在实验教学中起到了非常重要的作用，它能促进学生对课程的学习兴趣，同时又能帮助学生加强对抽象概念的理解，从而增强学生的应用能力。
纳米技术、原子力显微镜、纳米测量技术
TH7;TB9
2015-01-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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