电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高碳锰铁中硅含量

摘要：

电感耦合等离子体发射光谱法测高碳锰铁中硅含量是较为准确的方法,因高碳锰铁中碳含量一般在7％ 以上,所以样品的前处理普遍借助微波消解仪进行高温高压消解,未配备微波消解仪的实验室无法便捷地对样品进行前处理.实验使用硝酸与氢氟酸在常温下溶解样品,建立了电感耦合等离子体发射光谱法检测高碳锰铁中硅含量的分析方法.采用国家标准物质绘制检测曲线,通过实验确定:称样量0.1000 g时用20 m l(1+1)硝酸和5 m l氢氟酸溶解样品后过滤定容;在仪器设定的参数条件下,在推荐分析谱线212.412 nm处可得准确测定结果.实验结果显示:硅含量在0.073％ ～2.38％(质量分数)范围内,硅的检测强度与对应的质量分数呈线性关系,校准曲线的线性相关系数r为0.9999.按照实验方法测定高碳锰铁合金有证标准物质中硅,测定值与标准值的误差均符合国家标准要求.有效解决了高碳锰铁样品前处理依赖微波消解仪的问题,可用于高碳锰铁中硅含量的快速测定.

关键词：高碳锰铁;硅含量测定;电感耦合等离子体发射光谱法;样品前处理

所属期刊栏目：43

分类号：TG115.3;O657.31(金属学与热处理)

在线出版日期：2021-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：55-58