差示分光光度法测定高含量的二氧化硅

摘要：

@@ 二氧化硅是水泥及原材料化学分析的常检项目,由于材质、含量差别很大,因此关于二氧化硅的测定方法很多.根据二氧化硅含量的不同分为三类,含SiO2量较高(WSiO2≥95%)的材质,多采用重量法;含SiO2为常量(WSiO2%～95%)的,多采用容量法;含SiO2量较低(WSiO2><5%)的,一般采用硅钼蓝比色法测定.这三种方法各有特点,重量法和容量法理论上准确度较高方法可靠,但是整个操作流程相对较复杂,费时费力测定周期长;用比色法测定,适用范围很小.

机标关键词：差示、分光光度法测定、高含量、二氧化硅含量、比色法测定、重量法、容量法、测定方法、SiO2、适用范围、化学分析、操作流程、材质、准确度、原材料、力测定、硅钼蓝、法理论、周期、项目

分类号：TQ172.63

在线出版日期：2009-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：48-50