X荧光分析仪与QCS通信接口的开发研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1007-6344.2008.02.012

X荧光分析仪与QCS通信接口的开发研究

引用
在水泥生产质量控制中,X荧光分析仪具有非常重要的作用.这里以日本岛津X荧光分析仪为例,介绍了一种XRF的上位通信方式和协议,给出了XRF与QCS上位机的通信实现,并讨论了在开发中应注意的问题.

X荧光分析仪、QCS、通信接口

TP273.5(自动化技术及设备)

2008-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

33-35

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

四川水泥

1007-6344

51-1456/TU

2008,(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn