新型数字IC测试仪的设计

摘要：

在测试74LS系列IC的过程中,为解决插拔被测IC时测试插座带电的问题,设计了一种由两片单片机组成、上位机为下位机程控供电的新型数字IC测试仪,该测试仪实现了插拔被测IC时测试插座完全断电,并具有时钟和温度显示等辅助功能.

关键词：IC、测试仪、单片机、程控供电、损坏

所属期刊栏目：29

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：四川教育学院2011年院级重点项目项目编号CJYKT11-03

在线出版日期：2013-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：122-124