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10.3969/j.issn.1673-159X.2015.02.009

掺杂CuO对(Zr0.8Sn0.2)TiO4陶瓷介电性能的影响

引用
采用固相反应法制备陶瓷样品,研究掺杂CuO对(Zr0.8Sn0.2)TiO4的微观结构和介电性能的影响.结果表明:掺杂降低了(Zr0.8Sn0.2) TiO4陶瓷的烧结温度,样品能够在1 300℃下烧结成瓷,陶瓷密度和介电常数随着CuO的增加而增加,介电损耗随着掺杂量的增加而减少.XRD结果显示:样品的主晶相均为(Zr0.8Sn0.2) TiO4相,ZnO和CuO的质量分数均为1%,烧结温度1 350℃时,介电常数为40.5,损耗为0.0004(1 MHz),介电性能最佳.

介电常数、Cu3TiO4、SEM

34

TQ174

西华大学研究生创新基金YCJJ201303,YCJJ201306

2015-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

46-49

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西华大学学报(自然科学版)

1673-159X

51-1686/N

34

2015,34(2)

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