基于 STM32的线阵 CCD 尺寸测量系统

摘要：

为提高线阵CCD的测量精度，提出了一种以STM32为核心控制器的尺寸测量系统。采用STM32编程实现对线阵CCD的驱动，利用视频专用AD9826芯片中的相关采样等特殊功能实现对CCD输出信号的噪声处理和模数转换。文章详细阐述了系统中CCD驱动、抑制噪声的相关采样、亚像素定位的细分算法等关键技术的实现原理。该设计既简化了此类系统的硬件设计又便于调试控制参数、实现复杂的细分运算。

关键词：精密尺寸测量、线阵CCD、细分算法、STM32、AD9826

分类号：TN386.5(半导体技术)

资助基金：教育部“春晖计划”合作科硕项目12202528

在线出版日期：2013-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：64-66,73