数控系统运行状态综合测试仪与数控装备及系统质量控制

摘要：

介绍了"数控系统运行状态综合测试仪”研究的目的、意义及测试系统结构、原理,着重突出其测试性能.分析了其在数控装备及系统质量控制中的贡献和意义.

关键词：数控测试仪、测试性能、质量控制

所属期刊栏目：20

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：12-13