原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析

摘要：

作者使用241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法,对四川大学原子核科学技术研究所的2.5MeV静电加速器进行了能量刻度,并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列Al衬底金属薄靶的厚度,所测结果与称重法进行了比较.作者将卢瑟福背散射方法所测厚度值运用到电子碰撞引起原子内壳层电离截面的测量工作中,取得了满意的结果.

关键词：卢瑟福背散射(RBS)、能量刻度、电子碰撞、原子内壳层电离截面

所属期刊栏目：41

分类号：O562.4(分子物理学、原子物理学)

资助基金：国家自然科学基金委员会-中国工程物理研究院联合资助项目10276029;高等学校博士学科点专项科研项目20020610019

在线出版日期：2005-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1221-1224