10.3969/j.issn.1009-3087.2006.02.031
逻辑表达式图的实现及其在集成电路故障可测性中的应用
数字电路的可靠性有着至关重要的影响,测试是其重要保证,测试向量的自动生成(ATPG)在数字电路的测试中占有重要地位;逻辑表达式图(Boolean Expression Diagrams,BED)是用于逻辑函数与逻辑电路表达与运算一种数据结构,能够将逻辑电路在线性空间复杂度内表达,是二元判决图(Binary Decision Diagrams, BDD)在概念上的推广且保留着BDD的许多有用的性质.讨论了BED的性质与实现方法,并将BED用于逻辑电路呆滞型故障测试向量的自动生成中,基于BED的测试算法直接将原电路与故障电路做异或运算后用BED表达再化简或判断其可满足性,算法能充分使用逻辑代数的化简规则和利用电路与故障电路的相似性.实验结果表明,基于BED的测试方法具有较低的复杂度.
逻辑表达式图、二元判决图、呆滞型故障、测试
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TP206(自动化技术及设备)
2006-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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