细胞自动机及其在数字VLSI测试中的应用

摘要：

以尽可能短的测试序列长度对被测电路达到较高的故障覆盖率为目标,基于细胞自动机的基本原理和分类,以及在超大规模集成电路伪随机测试中用作伪随机数发生器的一维线性混合型最大序列长度细胞自动机的结构和实现,利用m序列的移位可加性,分析了为细胞自动机阵列设计移相器以减小其生成位流互相关性的快速算法和实现,提供了一种低硬件开销的多扫描链配置方法,对标准电路的实验证明该方法具有较低的计算复杂度,可以缩短伪随机测试长度.

关键词：细胞自动机、m序列、集成电路测试

所属期刊栏目：36

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：87-89,94