10.3969/j.issn.1009-3087.2000.01.019
用PSD精确测量软质低反光材料
介绍一种适用于软质低反光材料检测的半导体激光位置探测器PSD,用半导体激光器和位置探测器件及相关光学数控系统来测量软质低反光材料,进行无接触式高精度测量,被测件表面不损伤,无擦痕,不变形,测量精度高、分辨率高.
PSD、无接触测量、低反光材料
32
TH112
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
73-74
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10.3969/j.issn.1009-3087.2000.01.019
PSD、无接触测量、低反光材料
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TH112
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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