10.16621/j.cnki.issn1001-0599.2020.04.78
基于机器视觉的IC芯片外观检测系统分析
介绍机器视觉系统的组成、工作流程、起源、领域、现状与发展方向,分析IC芯片的外观质量检测项目和3种检测方法的优缺点、机器视觉技术检测IC芯片外观的3种产品缺陷.分析IC芯片的外观特征,介绍IC芯片外观的机器视觉检测系统的总体流程、硬件结构、软件模块、标定与检测算法.
机器视觉、IC芯片、外观检测
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2020-06-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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