不同牙本质粘结系统粘结界面纳米渗漏的比较研究
目的:观察5种牙本质粘结系统粘结界面纳米渗漏.方法:选取25颗无龋坏成人恒磨牙,随机分为5组;选择4种自酸蚀粘结系统Clearfil S3 Bond、i Bond、Clearfil SE Bond、Xeno Ⅲ和1种全酸蚀粘结系统Single Bond 2,每组分别应用其中1种粘结系统进行粘结处理.在透射电镜(TEM)下观察牙本质粘结界面的纳米渗漏.结果:应用Single Bond 2、Xeno Ⅲ分别与应用Clearfil S3 Bond、i Bond 和Clearfil SE Bond比较,牙本质粘接界面的纳米渗漏值差异均显著(P＜0.05);自酸蚀粘结剂 i Bond、Clearfil S3 Boon和Clearfil SE Bond间比较,纳米渗漏值差异均不显著(P＞0.05);Single Bond 2 与Xeno Ⅲ比较,纳米渗漏值差异不显著(P＞0.05).结论:5种牙本质粘结系统的牙本质界面均存在纳米渗漏,自酸蚀粘结技术需进一步完善.
粘结系统、纳米渗漏、透射电镜
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R783.1(口腔科学)
2010-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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