半导体制冷元器件性能参数测试实验研究

摘要：

设计了一套半导体制冷元器件性能参数测试装置,利用该装置通过实验测得型号TEC1-12706半导体制冷元器件的制冷量和散热量,并结合实验数据与理论计算推导出半导体元器件冷热端温度及相关性能参数.实验结果表明,该装置可测试出半导体制冷元器件在不同温度下的电阻R、塞贝克系数α、导热系数κ和优质系数Z等性能参数;同时,对测试结果的准确性进行了分析,指出实验测试的不足,并对测试数据进行了修正,修正结果显示了半导体性能参数与平均温度之间的关系.该装置对半导体制冷元器件性能参数测试结果数量级与相关文献测试结果一致,具有一定的准确性,能够为半导体性能参数测试研究提供参考.

关键词：半导体制冷元器件;实验研究;性能参数

所属期刊栏目：20

分类号：TH12

资助基金：国家基础科学人才培养基金资助项目;福建省中青年教师教育科研资助项目

在线出版日期：2022-02-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：521-527