烧结温度对真空热压烧结法制备Cr40-Si60合金的微观结构、电学特性及力学性能的影响

摘要：

利用真空热压烧结法制备Cr40-Si60合金,以XRD、排水法、金相显微镜、硬度计、万能试验机以及SEM等方式探讨了烧结温度对其微观结构、电学特性及力学性能的影响.结果 表明:热压烧结温度为1250℃时所得合金样品具有最大的烧结密度与电导率,分别约为4.08 g/cm3与1.23×104 S/m;但综合电学特性与力学性能两方面考虑,热压烧结温度为1200℃时所得Cr40-Si60合金具有较适当的电导率(1.17×104 S/m)和机械强度(硬度为76.2 HR30N、横向断裂强度为64.57 MPa).

关键词：Cr40-Si60合金、真空热压烧结、烧结温度、微观结构、电学特性、力学性能

所属期刊栏目：50

分类号：TG132.2(金属学与热处理)

资助基金：陕西理工大学校级科研项目;教学改革项目;陕西理工大学一流专业子项目

在线出版日期：2021-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：44-47,51