10.3969/j.issn.1000-985X.2019.09.003
GaN体单晶的氨热生长及应力调控
采用氨热法在碱性条件下生长了GaN体单晶,SEM照片显示晶体表面有大量裂纹.用拉曼光谱测量GaN晶体的E2 (high)声子拉曼峰,结果表明晶体内部应力波动较大.通过减小温度梯度、籽晶优选及降温程序优化后,得到了无裂纹的氮化镓晶体,(002)和(102)的X射线摇摆曲线FWHM分别为48 arcsec和54 arcsec,显微拉曼光谱表明经过工艺优化后的晶体应力显著降低,应力的来源主要为生长过程中杂质的引入.
GaN晶体、氨热法、应力调控
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O782(晶体生长)
国家自然科学基金61574162,61604169
2019-12-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1599-1603