10.3969/j.issn.1000-985X.2018.04.001
HPVB法生长的CdSe单晶性能研究
采用有籽晶的高压垂直布里奇曼法(HPVB)生长了直径35 mm的大尺寸CdSe单晶.使用X射线衍射仪测试了晶体的结晶质量,结果表明生长的晶体为纯六方相CdSe单晶,(002)晶面的摇摆曲线峰型尖锐且对称性好,峰值半高宽(FWHM)可达0.082°.使用辉光放电质谱法(GDMS)、霍尔效应测试、傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)对晶体生长轴向的微量杂质含量及分布、电学性能和光学性能进行测试和分析,结果表明微量杂质在晶体轴向方向呈现出不同的分凝特性,杂质的不均匀分布影响晶体的电学性能和光学性能.晶体呈现出较高的电阻率(108Ω· cm)和优良的红外透过性能,在8~12 μm范围内平均透过率约为70%,吸收系数小于0.058 cm-1.
CdSe单晶、籽晶、HPVB法、红外透过率、非线性光学晶体
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O782+.9(晶体生长)
天津市自然科学基金重点项目15JCZDJC37800;国家自然科学基金61774054
2018-06-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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