选择氧化法制备核壳NiSi/SiO2纳米颗粒及磁学性能研究
采用选择氧化法首次制备具有核壳结构的NiSi/SiO2纳米颗粒.通过SEM,TEM,EDX,XRD和VSM等测试手段对材料进行表征.结果表明,用上述方法制备得到的NiSi/SiO2纳米颗粒直径在40~200 nm之间,SiO2壳层厚度约为20 nm.基于选择氧化、结晶和热力学理论对SiO2壳层结构的形成机理进行了阐释.制备得到的NiSi/SiO2纳米颗粒在室温下显示出超顺磁性.
选择氧化、核壳结构、NiSi/SiO2纳米颗粒、磁学性能
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O469(真空电子学(电子物理学))
National Natural Science Foundation of China11104126
2016-10-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
2366-2371