ZnGeP2晶体轴向成分均匀性的XPS分析

摘要：

通过改进ZnGeP2晶体的合成和生长工艺,获得了尺寸为φ24 mm×60 mm的ZnGeP2单晶体.采用X射线光电子能谱(XPS)对生长出的晶体轴向成分进行了分析.结果表明,晶体在籽晶、放肩和主体部分成分一致,在尾部存在X射线衍射(XRD)未能检测出的极少量的P和Ge的氧化物,说明生长出的ZnGeP2单晶体的轴向成分比较均匀.红外透过率测试显示,晶体的轴向各部分在3 ～8 μm波长范围内透过率均在56％以上,而尾部在近红外波段(1.3～2.6 μm)的吸收明显要高于其他各部分.

关键词：磷锗锌、轴向成分、均匀性、透过率

所属期刊栏目：43

分类号：TN213(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金重点项目50732005

在线出版日期：2016-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1341-1345