氧离子后处理对氧化铟锡(ITO)薄膜电学和光学性能的影响
采用氧离子束对电子束蒸发制备且退火后的氧化铟锡(ITO)薄膜进行轰击后处理.经XPS检测发现氧元素在薄膜内含量增加,在深度方向上的梯度差下降.表面Sn4+含量增加,即掺杂离子浓度和载流子浓度提高,从而使薄膜方块电阻显著降低.当氧离子继续轰击时,薄膜的方块电阻保持平稳;同时,透过率曲线蓝移,紫外波段(300~400 nm)的平均透过率提高而可见光范围内(400 ~800 nm)的平均透过率略有下降,这种变化缘于薄膜的禁带宽度与折射率的增加.
ITO薄膜、电子束蒸发、氧离子束、方块电阻、透过率
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O484(固体物理学)
湖南省战略性新兴产业重大科技攻关项目2011GK4050
2016-10-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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