导模法蓝宝石单晶的位错缺陷及其力学性能的研究
采用导模法生长了a向,尺寸为60 mm ×5 mm ×300 mm的蓝宝石单晶片,采用化学腐蚀-金相显微镜法观测了其(0001)晶面的位错特征,并且采用INSTRON-1195万能试验机测试了抛光样品的弯曲强度.结果显示:当晶体中位错缺陷分布均匀时,在外部弯曲应力下,蓝宝石晶体发生特定晶面的高强解理断裂,位错密度的升高对蓝宝石弯曲强度没有明显损害作用.然而当晶体中出现位错密排结构时,蓝宝石单晶常温弯曲强度迅速下降.
导模法、蓝宝石、位错缺陷、弯曲强度
42
O771(晶体缺陷)
长江学者和创新团队发展计划IRT1059
2016-10-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1252-1256