升温程序对6H-SiC晶体生长初期籽晶石墨化的影响
本文利用有限元方法模拟不同升温程序对籽晶石墨化的影响,计算表明籽晶表面石墨化层厚度是由“倒温度差”区间的温度、持续时间和“倒温度差”绝对值综合决定.在升温程序初期可以采用较小功率阶梯加热,迅速升温节约时间;中期可以采用从现有功率线性加热至额定功率,这样使得籽晶原料“倒温度差”区间内温度值变小且减缓反应;同时还使“倒温度差”绝对值减小,抑制籽晶和原料间的输运.同时籽晶石墨化实验通过元素线扫描测量出石墨层厚度,也证实了理论计算的结果.
碳化硅、生长速率、有限元
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TB321(工程材料学)
中国科学院上海硅酸盐研究所科技创新项目
2016-10-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
847-850