固态源分子束外延法生长InGaP/GaAs异质结构的热力学分析
本文建立了采用分子束外延法制备InGaP/GaAs异质结构的热力学模型,其中考虑了两个重要的因素,由晶格失配引起的内在应力和InP的脱附.所得到的模型与现有实验结果匹配较好.该模型的实验结果表明在InGaP的生长过程中,生长温度,In/Ga束流比及合金组分之间的相互关系,同时也与实验数据相吻合.该模型对于其他气相沉积生长方式也具有一定的适用性.
热力学、固态源分子束外延、InGaP、GaAs、异质结构
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O484(固体物理学)
National High Technology Research and Development Program of China2006AA 03Z413;Natural Science Foundation of Tianjin, China08JCYBJC14800
2011-03-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
1406-1411