10.3969/j.issn.1000-985X.2002.01.013
Ce:YAP晶体生长和光谱性质
本文报道了用中频感应加热提拉法生长Ce:YAP晶体,晶体尺寸为35mm×80mm.在部分晶体中观察到了开裂、解理、孪晶、云层、核心和生长层等宏观缺陷,分析了缺陷与晶体生长温度梯度等因素的关系,对晶体样品进行了吸收光谱和荧光光谱分析.
Ce:YAP、闪烁晶体、晶体生长、缺陷观察、光谱分析
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O782.5(晶体生长)
瑞士核子中心资助项目
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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