10.3969/j.issn.1000-985X.2000.04.020
人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析
本文成功地利用透射电子显微术探讨了高温高压条件下于Fe-Ni-C系统中生长的人造金刚石单晶内部的微观杂质.分析了金刚石晶体中杂质的微观结构、化学成分组成、晶体结构及其可能形成的原因.研究结果表明,金刚石晶体中微观杂质与原材料、传压介质和高温高压过程密切相关,主要由面心立方(FeNi)23C6,正交结构的FeSi2,面心立方SiC和非晶态石墨组成.
人造金刚石、微观杂质、高温高压、透射电子显微术
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TQ164.8
中国科学院资助项目59631060;教育部优秀青年教师资助计划
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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394-398