中脑黑质结构的断层解剖和磁共振成像对比研究

摘要：

目的 对比观察断层解剖和磁共振成像对中脑黑质结构的显示能力.方法 对6例成人湿性头颅标本行磁共振检查后断层解剖,对照10名健康活体成人磁共振扫描,观察正常人黑质结构的形态及磁共振信号特点.结果 黑质内部结构的观察以横断层最佳.与断层解剖相对比,中脑黑质在T2加权像中可清晰显示,T1加权像中显示欠佳,在SWI加权像中可清晰显示中脑黑质的致密部及网状部.结论 磁共振横断面SWI加权像是显示中脑黑质的最佳方法.

关键词：黑质、断层解剖、磁共振成像、磁敏感加权成像

所属期刊栏目：39

分类号：R322(人体形态学)

在线出版日期：2018-06-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：190-192