X射线能量对基于宏孔硅的X射线CsI（Tl）闪烁屏的影响

摘要：

建立了基于宏孔硅的X射线CsI（Tl）闪烁屏模型，模拟分析了X射线能量对X射线CsI（Tl）闪烁屏光输出的影响。制备了周期为10 μm、方孔边长为8 μm的X射线闪烁屏，搭建了X射线成像装置，测量了不同X射线源管电压的X射线成像图，采用Matlab软件分析了X射线闪烁屏的光输出情况。研究结果表明，闪烁屏厚度越大，闪烁屏平均灰度值越大，与模拟结果一致。

关键词：X射线光学

所属期刊栏目：59

分类号：TP391.41;O434.1;R814.42

在线出版日期：2022-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：1734001