基于吸收光谱技术的制冷剂膜厚测量系统研制

摘要：

制冷剂液膜蒸发现象广泛地存在于航空航天、制冷空调和消费电子等领域，高精度定量分析液膜厚度对于了解液膜分布情况、揭示液膜传热规律及优化相关工业过程至关重要。将R1233zd作为研究对象，提出一种基于吸收光谱技术的制冷剂液膜厚度测量新方法。首先获取了不同温度(11.8，13.5，15.2，16.5，18.0 ℃)下R1233zd的吸收光谱，构建液膜厚度反演模型，并研制膜厚测量系统。利用厚度可调(0～800 μm)的标准具对该系统的测量精度进行验证。进一步结合图像法对水平石英玻璃板上的R1233zd液膜蒸发过程进行研究，发现两种方法测得的液膜厚度随时间的变化趋势吻合良好。该系统实现了R1233zd液膜蒸发过程中膜厚的高精度测量，有望为相关工业过程的设计和优化提供数据支撑。

关键词：测量、吸收光谱、膜厚、蒸发、measurement、absorption spectroscopy、film thickness、evaporation

所属期刊栏目：49

分类号：TK124;TP277;TP311.52

在线出版日期：2022-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：1704004