10.13662/j.cnki.qjs.2015.06.013
X-射线荧光光谱法在分析冰晶石、电解质各组分中的应用
本文采用将0.5g硼酸与10g样品混合研磨的方法来制备待测样片,该方法可使部分无法直接压制成型的样品压制成底部光滑的样片.建立工作曲线时采用将电解质与冰晶石标样拟合为一条曲线的方法,这样工作曲线建立后可同时测量冰晶石与电解质样品,同时也扩展了各组分的测量范围.方法准确性试验表明本方法准确性良好.在实际样品测量中,本方法所得结果与化学法数值吻合较好.
冰晶石、电解质、硼酸、X-射线荧光光谱法
TF821(有色金属冶炼)
2015-07-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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