10.3969/j.issn.1002-1752.2005.12.005
高频熔样-ICP-AES法测定氧化铝中杂质元素的研究
研究了采用高频熔样,利用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法同时测定氧化铝中的多种杂质元素的分析方法.对影响其光谱测量的各种因素进行了较为详细的研究,确定了实验的最佳测定条件.结果表明,方法的检出限为0.001-0.612μg/mL,回收率为94.0%-110.0%,RSD小于4.83%.该方法准确、快速、简便,应用于氧化 铝的测定,结果满意.
高频熔样、氧化铝、ICP-AFS、杂质元素
TF80.3(有色金属冶炼)
2007-09-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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