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10.11884/HPLPB202436.230214

基于波形测试的异质结双极型晶体管器件负载失配影响分析

引用
大功率电磁脉冲冲击下,射频集成微系统内部容易产生负载失配问题,严重者可能导致系统失效甚至损毁.采用实时的波形测试方法,对射频器件的负载失配进而导致器件损毁的机理进行了分析.该方法以矢量网络分析仪作为主要测试仪器,结合回波信号注入和相位参考模块获得待测器件实时电压电流波形,进而分析其负载失配影响机制.采用有源负载牵引技术模拟大功率耦合电磁脉冲注入,进行了电压驻波比 39∶1的失配测试,大幅提升了测试范围.创新性地采用了谐波信号源注入模拟杂散谐波电磁干扰,评估器件的谐波阻抗失配特性.通过实际异质结双极型晶体管(HBT)器件测试的结果表明,基波的失配会造成负载端电压过大,增加器件的易损性;基波和谐波频率的干扰分量组合使得输出电压瞬态峰值升高,造成器件的损毁.在进行电磁安全防护时,应同时考虑基波和谐波频率的防护.

负载失配、波形测试、异质结双极型晶体管、电磁安全防护

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TN97

国家自然科学基金;科技部重点研发计划

2024-02-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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