用于探测器标定的单能X射线源研究

摘要：

为提高X射线探测器的标定精度,在荧光X射线源的基础上,提出在荧光X射线出射通道设置滤光片的方法提高X射线纯度.通过蒙特卡罗建立仿真模型,分析了辐射体发生K层光电效应的概率与原子序数的关系,并得到荧光强度和纯度随滤光片厚度的变化曲线.在大气环境下,采用硅漂移半导体探测器测试了荧光X射线源的能谱分布和光子流量,分析X射线管管电压对光子流量和荧光纯度的影响.在辐射体材料为铜,滤光片(镍)厚度为 0 μm、10 μm和 30 μm时,测得的荧光X射线纯度分别为 75.61%、85.38%和 84.25%,光子流量分别为 3425 phs/s、2023 phs/s和 1192 phs/s,确认了滤光片厚度对荧光X射线纯度和强度的影响,为解决荧光X射线光源单色性不足难以对X射线探测器进行高精度标定的问题提供了方向.

关键词：荧光X射线源、滤光片、探测器标定

所属期刊栏目：35

分类号：O572.21+2(原子核物理学、高能物理学)

资助基金：国家重点实验室基金;陕西省自然科学基础研究计划项目;中国科学院“西部之光”人才培养引进计划;国家自然科学基金

在线出版日期：2023-09-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：61-66