分层γ扫描技术中HPGe探测器几何因子加权刻度方法

摘要：

分层γ扫描(SGS)测量分析是一种无损检测技术,是桶装核废物定性、定量分析的重要手段.实际分析过程中,随着放射性核素所在的位置变化,对应每层不同的位置HPGe探测器的探测效率也随之变化,导致对样品不同位置需分别进行效率刻度.本工作用均匀聚乙烯样品填充废物桶,采用SGS装置的测量方法估计放射核素活度.将放射性点源置于桶内,按距离桶的中心距离依均匀分布规律选取7个点,分别对其进行效率刻度.并建立SGS测量系统几何模型,通过两种方法将1～7号位置的几何因子对探测效率计算结果进行加权平均,后给出每层的探测效率标准值,此标准值可充分估计每层不同位置对核素的探测效率.结果表明:在测量和计算误差存在的条件下,可以快速准确估计出放射性废物桶内不同位置的核素放射性活度,提高检测精度.

关键词：废物桶、分层γ扫描装置、效率刻度校准、几何因子

所属期刊栏目：29

分类号：TL99

资助基金：国家自然科学基金项目41374130;国家自然科学基金青年基金项目41604154;西南科技大学研究生创新基金项目16ycx006

在线出版日期：2017-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：123-129