紫外辐照对聚醚酰亚胺薄膜介电性能的影响

摘要：

研究了不同紫外辐照时间对聚醚酰亚胺（PEI）薄膜介电性能的影响。采用 FT-IR 和 SEM 表征了 PEI 薄膜的分子结构和微观形貌。结果表明，紫外辐照后 PEI 薄膜在1742 cm-1处的吸收峰比原薄膜增大，说明 PEI 分子链中的 C=O 基团随辐照时间的增加而增加，并在薄膜表面产生了微裂纹。对 PEI 薄膜的介电性能进行的研究结果表明，随着紫外辐照时间的增加，PEI 薄膜的介电常数和介电损耗增大，而表面电阻率下降，体积电阻率基本不变。并随紫外辐照时间的增加，直流击穿强度呈先增加后降低的趋势，一定辐照剂量可使薄膜发生交联反应，使击穿场强较原薄膜提高20％以上。

关键词：聚醚酰亚胺、紫外辐照、介电常数、介电损耗、表面电阻率、直流击穿场强

所属期刊栏目：28

分类号：TM215.3(电工材料)

在线出版日期：2016-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：064134-1-064134-5