滚边法测量高能X射线源焦斑大小
应用于高能闪光 X光照相技术的 X射线源焦斑大小是闪光照相装置的关键参数,直接影响成像的分辨能力.由于高能 X射线的强穿透性和强辐射环境,给焦斑测量带来一定困难.介绍了一种间接测量方法,采用滚边装置(rollbar)成像得到 X射线源的边扩展函数,微分后得到光源的线扩展函数并计算调制传递函数(MTF),而后从 MTF为0 .5 所对应的空间频率之值确定出光源的光斑大小.给出了神龙二号加速器电子束聚焦调试实验中得到的 X射线焦斑测量结果,分析影响测量结果的因素并提出了解决方法.
高能X射线、焦斑大小、调制传递函数、滚边装置
28
TN249(光电子技术、激光技术)
国防科技专项研究基金
2016-04-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
184-189