5~88 keV能区硬X光能谱精密测量
利用滤波荧光(FF)法建立了5~88 keV能区硬X光能谱测量系统,对闪烁探测器的灵敏度进行了精密标定,不确定度好于10%.通过研究干扰产生的原因,改善系统屏蔽,有效地排除了干扰,提高了系统的信噪比;通过更换大电流的光电倍增管,改变准直光阑的尺寸和滤片的厚度,将测量系统的线性动态范围从4提高到104.在神光Ⅲ原型物理实验中定量给出Au平面靶硬X光谱,实现硬X光能谱的精密测量.
硬X光、滤波荧光、超热电子、能谱
26
O434.12;O536(光学)
国家重大专项
2014-12-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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