再发射技术测量SGⅡ黑腔靶早期对称性
利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性.2011年在神光Ⅱ激光装置上,采用Bi替代靶,通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置,利用分幅相机获得较高信噪比的Bi球表面再发射图像.利用实验结果获得了入射流不对称性P2分量随时间的变化,对比两种腔长的黑腔,P2分量随时间的变化存在明显差别.两种腔P2分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致.
再发射、早期不对称性、P2分量、Bi替代靶
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TN244(光电子技术、激光技术)
国家高技术发展计划项目
2013-03-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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385-388