HT-7托卡马克等离子体密度调制实验中的逃逸电子行为
在HT-7托卡马克的等离子体密度调制实验中,通过对欧姆和低杂波电流驱动两种放电条件下等离子体逃逸电子辐射行为的研究,验证了非准稳态等离子体中逃逸电子的产生机制,研究了欧姆和低杂波电流驱动两种放电条件下的大量充气对等离子体整体约束性能的影响.研究结果发现:放电过程中额外的大量工作气体的充入使等离子体偏离了准稳态,逃逸电子初级产生机制和次级产生机制准稳态的假设条件被打破,这时候需要利用非准稳态条件下修正后的逃逸电子归一化阈值速度来解释逃逸电子的辐射行为;同时也发现放电过程中额外的大量工作气体的充入将使等离子体的整体约束性能变差.
托卡马克、密度调制、逃逸电子、归一化阈值速度
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O536;O532(等离子体物理学)
国家自然科学基金项目11205029,11175045;中央高校基本科研业务费专项资金项目11D10908;东华大学青年教师科研启动基金项目109-10-0044030;国际热核聚变实验堆计划专项课题2009GB106002,2009GB107006
2013-01-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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